LJD系列介電常數(shù)介質損耗測試儀
發(fā)布時間：2023-07-19 04:51:57 點擊量：4703次
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一、符合標準：
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；
GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測試方法；
二、主機及夾具參數(shù)：
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項目/型號
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LJD-B
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LJD-A
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LJD-C
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信號源
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DDS數(shù)字合成信號
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頻率范圍
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10KHZ-70MHZ
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10KHZ-110MHZ
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100KHZ-160MHZ
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信號源頻率覆蓋比
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7000:1
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11000:1
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16000:1
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采樣精度
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11BIT
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12BIT
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信號源頻率精度
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3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
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Q值測量范圍
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1～1000自動/手動量程
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Q值量程分檔
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30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
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Q分辨率
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4位有效數(shù)，分辨率0.1
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Q測量工作誤差
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＜5%
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電感測量范圍
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1nH～8.4H,；分辨率0.1
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1nH～140mH；分辨率0.1
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電感測量誤差
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＜3%
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電容直接測量范圍
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1pF～2.5uF
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1pF～25uF
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調諧電容誤差分辨率
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±1pF或＜1%
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主電容調節(jié)范圍
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30～540pF
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17～240pF
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諧振點搜索
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自動掃描
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自身殘余電感扣除功能
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有
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大電容值直接顯示功能
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有
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介質損耗直讀功能
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有
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介質損耗系數(shù)精度
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萬分之一
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介質損耗測試范圍
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0.0001-1
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介電常數(shù)直讀功能
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無
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有
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介電常數(shù)精度
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千分之一
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介電常數(shù)測試范圍
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0-1000
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LCD顯示參數(shù)
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F,L,C,Q,LT,CT,波段等
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準確度
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150pF以下±1pF；150pF以上±1%
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Q合格預置范圍
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5～1000聲光提示
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環(huán)境溫度
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0℃～+40℃
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消耗功率
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約25W
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電源
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220V±22V，50Hz±2.5Hz
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極片尺寸
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38mm/50mm(二選一)
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極片間距可調范圍
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≥15mm
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材料測試厚度
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0.1-10mm
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夾具插頭間距
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25mm±0.01mm
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夾具損耗正切值
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≤4×10－4 （1MHz）
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測微桿分辨率
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0.001mm
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測試極片
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材料測量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調 ≥ 15mm
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三、配置：
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序號
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標準配置
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單位/數(shù)量
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1
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主機
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一臺
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2
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S916夾具
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一套
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3
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電感組
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九只
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4
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電源線
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一根
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選配：USB模塊、液體杯（測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm）
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